常数载流子寿命近似对分析半导体光混沌系统工作特性的影响

• 作者: 吴正茂 夏光琼 张毅 钟东洲
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 载流子寿命 光混沌 同步误差
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 激光器件与元件
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: TN929.1
• 字数: 3287字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2005.01.006

摘要

人们在分析半导体光混沌系统的工作特性时,通常假定激光器中的载流子寿命为一常数(本文称为常数载流子寿命近似(CCLA)).本文从激光器中载流子的实际复合机制出发,得到了处于混沌态时激光器载流子寿命随时间的变化曲线;数值研究了半导体激光器光混沌系统的工作特性,并把所得的结果与采用常数载流子寿命近似(CCLA)所得的结果进行了比较,发现采用CCLA不仅会导致对混沌区的错误判定,并且还会影响对系统同步误差的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏光琼	西南师范大学物理学院	35	180	6.0	12.0
2	吴正茂	西南师范大学物理学院	38	182	6.0	12.0
3	钟东洲	西南师范大学物理学院	3	29	2.0	3.0
4	张毅	西南师范大学物理学院	2	27	1.0	2.0