基于功能信息的验证工程学过程模型研究

• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 功能验证 工程学 功能信息 过程模型
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 页码范围: 147-151
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

针对当前集成电路功能验证面临的问题,通过引入工程学思想,研究了集成电路功能验证的工程学问题.以功能验证的过程模型为研究对象,在已有过程模型的基础上,提出了一种全新的功能验证过程模型--基于功能信息的验证工程学过程模型,并讨论了模型中的若干具体问题.该模型在提高验证并行度和促进验证重用等方面有积极意义.