一款SoC的功能测试系统的设计

• 作者: 关华深 罗明清 罗春
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: SoC 测试系统 模块测试 ARM7TDMI
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 16-18,21
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3081字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2005.04.006

摘要

针对一款基于ARM7TDMI处理器核的SoC(片上系统),设计了一个经济实用的功能测试系统,该系统采用宿主机/目标机结构.文中分析了该系统的Host程序和Monitor程序,然后以片外存储器接口模块测试、片上eSRAM(增强型SRAM)模块测试和USB客户端控制器模块测试为例,介绍SoC片上模块的测试方法.该系统符合模块化的构建思想,对于设计其他SoC功能测试系统具有一定的借鉴作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗春	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	12	135	7.0	11.0
2	关华深	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	1	7	1.0	1.0
3	罗明清	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	4	20	2.0	4.0