GaAs flash ADC成品率及其性能的蒙特卡罗分析

• 作者: 夏冠群 张有涛 李拂晓 杨乃彬 王洋
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 成品率 flash ADC GaAs 蒙特卡罗
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 研究快报
• 页码范围: 1509-1513
• 页数: 5页
• 分类号: TN431.1
• 字数: 557字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.08.006

摘要

利用蒙特卡罗分析法对GaAs flash ADC的成品率及其关键参数的灵敏度进行了定性及定量的分析.当器件阈值电压的标准偏差增大时,flash ADC的DNL,INL性能会以近似线性的关系降低且更高分辨率ADC线性性能的恶化速度更快;ADC的成品率离散达到一定程度后,以指数关系下降,且高分辨率ADC的丢码率会以更快的速度增长.分析结果表明,HBT以及带腐蚀自停止的HEMT技术是超高速高分辨率ADC的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏冠群	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	61	307	9.0	16.0
2	李拂晓		60	352	10.0	14.0
3	杨乃彬		18	95	6.0	8.0
4	王洋	南京理工大学电光学院	8	72	4.0	8.0
5	张有涛	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	19	40	4.0	5.0