工业CT的散射研究

• 作者: 刘以农 康克军 王烈波
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 康普顿散射 工业CT 密度锐变 高频伪影
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 25-27,69
• 页数: 4页
• 分类号: TL81
• 字数: 1558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2005.01.006

摘要

X射线散射的存在严重影响了工业CT系统的性能,物体内部密度锐变区域的散射将可能引起重建图像严重的高频伪影,从而影响缺陷的检测,理论计算了不同材料交界面处的X射线散射引起的投影数据偏差的强度及分布,并通过Monte Carlo方法作了验证,在此基础上,简单分析了散射引起的伪影的表现形式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
2	刘以农	清华大学工程物理系	39	271	9.0	14.0
3	王烈波	清华大学工程物理系	2	7	2.0	2.0