芯片叠层封装的失效分析和热应力模拟

• 作者: 俞宏坤 王珺 肖斐 陆震 顾靖
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 叠层封装 高温高湿加速试验 分层 芯片裂纹 有限元模拟
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1273-1277
• 页数: 5页
• 分类号: TN306
• 字数: 3069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.06.041

摘要

通过高温高湿加速实验对双芯片叠层封装器件的失效进行了研究,观察到存在塑封料与上层芯片、BT基板与塑封料或贴片胶的界面分层和下层芯片裂纹等失效模式.结合有限元分析对器件内热应力分布进行了计算模拟,分析了芯片裂纹的失效机理,并从材料性能和器件结构角度讨论了改善叠层封装器件可靠性的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王珺	复旦大学材料科学系	48	343	11.0	17.0
2	陆震	复旦大学材料科学系	3	66	3.0	3.0
3	肖斐	复旦大学材料科学系	27	220	9.0	14.0
4	俞宏坤	复旦大学材料科学系	24	318	8.0	17.0
5	顾靖	复旦大学材料科学系	7	92	5.0	7.0