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摘要:
采用自制的低压金属有机化学气相淀积设备,用三甲基镓、三甲基铟作为Ⅲ族源,三甲基锑和砷烷作为Ⅴ族源在(100)面GaSb和GaAs单晶衬底上分别外延生长了InAsSb材料.用X射线双晶衍射、原子力显微镜、扫描电镜和电子探针能谱仪等对材料特性进行了表征,研究了生长温度、Ⅴ/Ⅲ比、过渡层等生长参数对外延层质量的影响.获得了与GaSb衬底晶格失配度为0.4%的表面光亮且晶体质量较好的InAs0.85Sb0.15外延层.
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文献信息
篇名 GaSb衬底上InAsxSb1-x合金的低压MOCVD生长和表征
来源期刊 半导体学报 学科 物理学
关键词 LP-MOCVD GaSb InAsSb 生长
年,卷(期) 2005,(12) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 2298-2302
页数 5页 分类号 O484.1
字数 1148字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.12.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 汪韬 中国科学院西安光学精密机械研究所 18 116 5.0 10.0
2 李晓婷 中国科学院西安光学精密机械研究所 9 64 5.0 8.0
4 赛小锋 中国科学院西安光学精密机械研究所 15 135 7.0 11.0
5 高鸿楷 中国科学院西安光学精密机械研究所 17 110 5.0 10.0
6 王一丁 吉林大学电子工程系 54 369 11.0 18.0
9 王警卫 中国科学院西安光学精密机械研究所 3 26 2.0 3.0
10 殷景致 吉林大学电子工程系 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
LP-MOCVD
GaSb
InAsSb
生长
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
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大16开
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1980
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