凌华参展第五届嵌入式系统研讨会暨展览会

• 来源期刊: 测控自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式系统 展览会 研讨会 第五届 参展
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 页码范围: 20
• 页数: 1页
• 分类号: TP316

摘要

推出ETXexpress家族第一成员ETXp—IA533大大提升计算品质