电子元器件测试系统选型方法

• 作者: 孙铣
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件测试系统 系统选型 测试体制 测试技术
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 13-18
• 页数: 6页
• 分类号: TM93
• 字数: 10685字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.03.006

摘要

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较,分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙铣		9	7	1.0	2.0