影响反射面天线副瓣性能的机理

• 作者: 戴国宪 杨晓蓉 王朝墀 童创明
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 反射面天线 方向图 副瓣 口径场
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 天馈伺系统
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TN821
• 字数: 958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2005.06.012

摘要

由于反射面天线中抛物盒顶部开口所造成结构不连续,使其开口处产生的散射场对抛物盒的反射场干涉而造成口径场畸变,从而导致了天线副瓣性能变差.该文根据天线方向图与其口径场之间的关系,通过理论分析和仿真计算,分析、讨论了口径场分布影响天线副瓣性能的主要机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王朝墀	空军工程大学导弹学院	11	103	5.0	10.0
2	戴国宪	空军工程大学导弹学院	35	251	10.0	15.0
3	童创明	空军工程大学导弹学院	213	811	12.0	18.0
4	杨晓蓉	空军工程大学导弹学院	6	21	2.0	4.0