多层天线罩的电性能分析

• 作者: 刘其中 陶海志
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 天线罩 网络 方向图 几何光学 射线跟踪
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 95-96,99
• 页数: 3页
• 分类号: TN821
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.04.040

摘要

论述了几何光学-射线跟踪法分析天线-天线罩系统的电性能,并将网络思想融入其中,简化多层天线罩电性能分析,并给出了远场辐射方向图和透波率的仿真结果,结果说明此方法简单有效,在多层罩的分析中更有效率,而且精度良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	陶海志	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	1	7	1.0	1.0