Kelvin四线连接电阻测试技术及应用

• 作者: 庞克俭 赵英伟
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 开尔文 电阻隔离测试 分离开尔文连接
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 43-45,50
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.07
• 字数: 2081字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2005.11.011

摘要

介绍了开尔文(Kelvin)四线连接方式测试电阻的原理,针对复杂电阻网络提出电阻隔离测试技术.分析了采用全开尔文更精确测量极小电阻的方法,介绍了在特殊情况下使用分离开尔文连接测试电阻的方法和用途.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庞克俭	中国电子科技集团公司电子第十三所	3	65	3.0	3.0
2	赵英伟	中国电子科技集团公司电子第十三所	6	46	1.0	6.0