SoC内部电路验证

• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: Soc 内部验证 FPGA 观察
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 1-2
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了基于FPGA和Soc内部电路观察二个方面的Soc验证,并论证了FPGA验证方法能够帮助仿真期间未找到的缺陷.通过内部Soc验证,你会发现模型和测试设计工程师不能有理解的细节.