存储器的测试技术

• 作者: 刘欢 李金凤 王健 边福强
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 功能故障模型 March算法 BIST
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 25-26
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 957字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2005.04.014

摘要

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王健	沈阳化工学院信息工程学院	49	161	7.0	11.0
2	刘欢	沈阳化工学院信息工程学院	46	126	6.0	8.0
3	李金凤	沈阳化工学院信息工程学院	40	179	7.0	12.0
4	边福强	沈阳化工学院信息工程学院	4	17	2.0	4.0