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摘要:
针对内孔零件批量快捷测量的问题,提出了基于反射式光强调制型光纤位移传感器的电子塞规测试系统.介绍了系统的测量原理与机械结构,设计了光纤位移传感器的结构和补偿算法.
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文献信息
篇名 采用光纤传感器的电子塞规的设计
来源期刊 中国测试技术 学科 工学
关键词 电子塞规 反射式光强调制型光纤位移传感器 补偿结构 补偿算法
年,卷(期) 2005,(2) 所属期刊栏目 计量技术与工程测试
研究方向 页码范围 60-61
页数 2页 分类号 TM911
字数 1170字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-5124.2005.02.023
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵世平 四川大学制造学院 60 339 10.0 15.0
3 刘庆 四川大学制造学院 9 41 4.0 6.0
5 杨庆华 四川大学制造学院 7 23 2.0 4.0
11 赵背生 四川大学制造学院 2 21 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子塞规
反射式光强调制型光纤位移传感器
补偿结构
补偿算法
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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中国测试
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