论四探针法测试半导体电阻率时的厚度修正

• 作者: 宿昌厚 鲁效明
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻率 厚度修正 四探针法
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TB97
• 字数: 1496字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2005.08.002

摘要

论述了用四探针法测量半导体片电阻率时,怎样更好地进行厚度修正,结果才更准确.首先讲述经典四探针法中从厚块原理出发和从薄层原理出发测试体电阻率的原理及其分界点,再论述双位组合四探针法中实现厚度修正的特点,并给出修正函数计算式及一部分修正函数数据表.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宿昌厚	北京工业大学电子信息与控制工程学院	3	58	2.0	3.0
2	鲁效明		4	67	3.0	4.0