一种双端测距算法的伪根问题与改进

• 作者: 尚德基 尹项根 辛振涛
• 来源期刊: 继电器
• 学科: 工学
• 关键词: 测距 算法 伪根 EMTP
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 36-38,45
• 页数: 4页
• 分类号: TM711
• 字数: 2408字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2005.06.009

摘要

双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响,得到了广泛的关注.但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中,原理上存在伪根的可能性,在某些情况下,会得到错误的测距结果,因此需要对该测距算法进行改进.该文首先对产生伪根的原因进行了深入地分析,并在此基础上,对原算法进行了改进,提出了判别伪根的原则,使其更具通用性,并利用EMTP程序仿真验证了改进后的测距算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尚德基		8	64	3.0	8.0
2	尹项根	华中科技大学电气与电子工程学院	315	9273	51.0	80.0
3	辛振涛	华中科技大学电气与电子工程学院	4	133	3.0	4.0