支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现

• 作者: 胡莲
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 IEEE 1149.1标准 测试图形生成 串行向量格式
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 仪表与传感器
• 页码范围: 14-16,26
• 页数: 4页
• 分类号: TP393
• 字数: 3653字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2005.04.004

摘要

边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡莲	同济大学经管学院	7	60	3.0	7.0