一种基于模拟退火的LUT结构FPGA工艺映射算法

• 作者: 张明 温宇杰 童家榕
• 来源期刊: 复旦学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体技术 现场可编程门阵列 工艺映射 查询表 模拟退火
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 页码范围: 951-955
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 4040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0427-7104.2005.06.007

摘要

SoPC中提供给FPGA IP核的有限面积使面积优化成为工艺映射的关键目标之一.减少实现电路功能的可编程逻辑单元数可以有效地减小所需芯片面积,还能降低对布线资源的需求.利用模拟退火算法从全局范围对LUT结构FPGA的工艺映射过程进行考虑,针对减少所用LUT数目的目标得出映射结果,实验结果表明用该算法可以快速地得出非常优化的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	58	312	9.0	16.0
2	童家榕	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	56	284	9.0	13.0
3	温宇杰	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	3	10	2.0	3.0