纳米粒子粒径的测量研究

• 作者: 陈志刚 顾卓明 顾彩香
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米粒子 X射线衍射法 透射电子显微镜法 测量
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术与方法
• 页码范围: 24-26,35
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.2
• 字数: 2375字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2005.01.007

摘要

采用X射线衍射法(谢乐法)与透射电子显微镜法(TEM法)对纳米粒子粒径的测量进行了研究.结果表明,该两种方法都可用于纳米粒子粒径的的测量与表征,且两者的测量结果相当一致;纳米粒子实际平均粒径似应在两种方法测定结果之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾彩香	上海海事大学商船学院	44	358	12.0	15.0
2	顾卓明	上海海事大学商船学院	22	221	9.0	13.0
3	陈志刚	上海海事大学商船学院	8	107	6.0	8.0