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摘要:
针对集成电路制造中TEM检测分析的高正确度要求,本文介绍了一种高分辨力电子显微镜放大倍率的校准方法.该方法简单、方便,能够有效地减少系统误差,结果可靠,适用范围广.
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文献信息
篇名 一种高分辨力电镜放大倍率的校准方法
来源期刊 计量技术 学科 生物学
关键词 透射电子显微镜 放大倍率 校准
年,卷(期) 2005,(11) 所属期刊栏目 测量与设备
研究方向 页码范围 27-29
页数 3页 分类号 Q-3
字数 2537字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0771.2005.11.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘剑霜 扬州大学物理科学与技术学院 8 19 1.0 4.0
3 谢锋 复旦大学国家微分析中心 20 230 7.0 15.0
4 盛克平 5 24 3.0 4.0
5 胡刚 复旦大学国家微分析中心 6 137 2.0 6.0
6 陈一 复旦大学国家微分析中心 41 357 9.0 17.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
透射电子显微镜
放大倍率
校准
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计量技术
月刊
1000-0771
11-1988/TB
大16开
北京市朝阳区北三环东路18号
2-796
1957
chi
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