基于质量损失函数的仪器最佳校准周期的确定

• 作者: 朱立锋 薛跃 韩之俊
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 损失函数 校准周期 马氏距离 数字信号源
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 15-17,63
• 页数: 4页
• 分类号: TM930.7
• 字数: 2869字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2005.08.006

摘要

根据现行标准,测量器具的校准周期由各生产厂家和研究机构根据具体情况自行规定.田口(Taguchi)质量工程学给出了单质量特性情况下的最佳校准周期确定方法,但没有多质量特性下的计算公式.文中从质量经济性出发,使用马氏距离度量多元测量质量特性,应用田口二次质量损失函数,以数字信号源为例推导其最佳测量周期的理论公式,为该仪器测量周期的确定提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛跃		13	175	7.0	13.0
2	朱立锋	南京理工大学经济管理学院	2	15	2.0	2.0
3	韩之俊		1	12	1.0	1.0