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摘要:
A new composition content quaternary-alloy-based phase change thin film, Sb-rich AgInSbTe, has been prepared by DC-magnetron sputtering on a K9 glass substrate. After the film has been subsequently annealed at 200 ℃ for 30min,it becomes a crystalline thin film. The diffraction peak of antimony (Sb) are observed by shallow (0.5 degree) x-ray diffraction in the quaternary alloy thin film. The analyses of the measurement from differential scanning calorimetry (DSC) show that the crystallization temperature of the phase change thin film is about 190C and increases with the heating rate. By Kissinger plot, the activation energy for crystallization is determined to be 3.05eV. The refiectivity,refractive index and extinction coefficient of the crystalline and amorphous phase change thin films are presented.The optical absorption coefficient of the phase change thin films as a function of photon energy is obtained from the extinction coefficient. The optical band gaps of the amorphous and crystallization phase change thin films are 0.265eV and 1.127eV, respectively.
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文献信息
篇名 Optical properties and structure of Sb-rich AgInSbTe phase change thin films
来源期刊 中国物理(英文版) 学科
关键词 thin films phase change Sb-rich AgInSbTe
年,卷(期) 2005,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 218-222
页数 5页 分类号
字数 语种 英文
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Sb-rich AgInSbTe
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中国物理B(英文版)
月刊
1674-1056
11-5639/O4
北京市中关村中国科学院物理研究所内
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