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镜像法分析静电感应晶体管特性
镜像法分析静电感应晶体管特性
作者:
李思渊
王永顺
胡冬青
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
静电感应晶体管
镜像法
I-V特性
摘要:
针对埋栅型静电感应晶体管(SIT)提出一种柱栅模型.用镜像法计算了器件内电势分布,并在此基础上计算了沟道势垒、栅效率、电压放大因子等.结果表明:沟道势垒直接取决于沟道过夹断因子;栅效率随栅尺寸和位移栅压的减小而减小,并随位移栅压一起趋向于0;在小电流情况下电压放大因子随电流的增大而增大,到一定数值后,电压放大因子趋于常数.最后给出了SIT I-V特性解析表达式,它既适用于类三极管特性(加大栅压下)也适用于混合特性(较小栅压下),且由此得到的I-V特性曲线和实验符合较好.
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文献信息
篇名
镜像法分析静电感应晶体管特性
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
静电感应晶体管
镜像法
I-V特性
年,卷(期)
2005,(2)
所属期刊栏目
研究快报
研究方向
页码范围
258-265
页数
8页
分类号
TN32
字数
2403字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2005.02.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
胡冬青
兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所
7
67
5.0
7.0
2
李思渊
兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所
25
113
7.0
9.0
3
王永顺
兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所
8
67
5.0
8.0
传播情况
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引文网络
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同被引文献
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二级引证文献
(24)
1975(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
1977(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1978(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
1982(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
1985(3)
参考文献(1)
二级参考文献(2)
1987(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
1988(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1990(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1995(3)
参考文献(1)
二级参考文献(2)
1999(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2000(3)
参考文献(1)
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参考文献(0)
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参考文献(2)
二级参考文献(0)
2005(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2006(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2007(6)
引证文献(4)
二级引证文献(2)
2008(4)
引证文献(2)
二级引证文献(2)
2009(5)
引证文献(2)
二级引证文献(3)
2010(5)
引证文献(1)
二级引证文献(4)
2012(5)
引证文献(1)
二级引证文献(4)
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引证文献(2)
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2016(3)
引证文献(1)
二级引证文献(2)
2017(3)
引证文献(0)
二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
静电感应晶体管
镜像法
I-V特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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