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摘要:
针对埋栅型静电感应晶体管(SIT)提出一种柱栅模型.用镜像法计算了器件内电势分布,并在此基础上计算了沟道势垒、栅效率、电压放大因子等.结果表明:沟道势垒直接取决于沟道过夹断因子;栅效率随栅尺寸和位移栅压的减小而减小,并随位移栅压一起趋向于0;在小电流情况下电压放大因子随电流的增大而增大,到一定数值后,电压放大因子趋于常数.最后给出了SIT I-V特性解析表达式,它既适用于类三极管特性(加大栅压下)也适用于混合特性(较小栅压下),且由此得到的I-V特性曲线和实验符合较好.
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文献信息
篇名 镜像法分析静电感应晶体管特性
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 静电感应晶体管 镜像法 I-V特性
年,卷(期) 2005,(2) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 258-265
页数 8页 分类号 TN32
字数 2403字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.02.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡冬青 兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所 7 67 5.0 7.0
2 李思渊 兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所 25 113 7.0 9.0
3 王永顺 兰州大学物理科学与技术学院静电感应器件研究所 8 67 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
静电感应晶体管
镜像法
I-V特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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