一种DC-DC芯片内建可测性设计

• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电源管理 DC-DC 可测性设计 内建测试电路
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1848-1853
• 页数: 6页
• 分类号: TN432
• 字数: 4347字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.09.033

摘要

DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制,有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难.文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法,在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路,就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数.