绝缘试样的漏电痕迹劣化与环境因素的影响

• 作者: 杜伯学 马力
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 有机绝缘材料 漏电痕迹劣化 环境因素 CTI值
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 12-13,19
• 页数: 3页
• 分类号: TM852
• 字数: 2438字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2005.01.005

摘要

目前尚无非常规环境下评估绝缘材料漏电痕迹劣化的国际标准,故按IEC 60112和IEC 60587国际标准论述了不同种类绝缘试样在紫外线照射、低气压、γ射线辐射、酸雨及高温环境下的漏电痕迹劣化特征,即紫外线照射可改变环氧树脂的绝缘破坏时间;在低气压环境下聚碳酸酯的CTI值增大,聚对苯二甲酸乙二醇酯的CTI值减小;随着γ射线照射量的增加聚萘二酸丁醇酯的CTI值增大,聚对苯二甲酸丁二醇酯的CTI值减小;聚碳酸酯随着温度的升高CTI值增大;聚苯乙烯在酸雨环境下绝缘强度无明显变化.在非常规环境下,如果用CTI值变小的绝缘材料将导致电器设备绝缘过早击穿而引起电气事故.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜伯学	天津大学电气与自动化工程学院	71	990	17.0	29.0
2	马力	天津大学电气与自动化工程学院	9	296	7.0	9.0