X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分

• 作者: 张勤 李国会 樊守忠 潘宴山
• 来源期刊: 理化检验-化学分册
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 化探样品 背景 谱线重叠校正 粉末样品压片
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 547-552
• 页数: 6页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2529字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-4020.2005.08.003

摘要

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定.讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW 07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜＜6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍＜14.0%以外,其余各组分均小于3.0%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勤	中国地质科学院地球物理化学勘查技术研究所	83	1441	20.0	35.0
2	李国会	中国地质科学院地球物理化学勘查技术研究所	34	595	14.0	23.0
3	樊守忠	中国地质科学院地球物理化学勘查技术研究所	10	267	7.0	10.0
4	潘宴山	中国地质科学院地球物理化学勘查技术研究所	8	234	6.0	8.0