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摘要:
提出了一种新的测试数据压缩/解压缩的算法,称为混合游程编码,它充分考虑了测试数据的压缩率、相应硬件解码电路的开销以及总的测试时间.该算法是基于变长-变长的编码方式,即把不同游程长度的字串映射成不同长度的代码字,可以得到一个很好的压缩率.同时为了进一步提高压缩率,还提出了一种不确定位填充方法和测试向量的排序算法,在编码压缩前对测试数据进行相应的预处理.另外,混合游程编码的研究过程中充分考虑到了硬件解码电路的设计,可以使硬件开销尽可能小,并减少总的测试时间.最后,ISCAS 89 benchmark电路的实验结果证明了所提算法的有效性.
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文献信息
篇名 一种基于编码的低硬件开销的测试数据压缩方法
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 测试数据压缩 不确定位填充 SoC测试 混合游程编码
年,卷(期) 2005,(11) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 2062-2068
页数 7页 分类号 TP391
字数 1926字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.11.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郝跃 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 312 1866 17.0 25.0
2 李康 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 21 146 7.0 11.0
3 刘红侠 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 91 434 10.0 15.0
4 方建平 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 13 118 6.0 10.0
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研究主题发展历程
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测试数据压缩
不确定位填充
SoC测试
混合游程编码
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
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1980
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