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老炼
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电子元器件
工艺因素
失效分析
质量
可靠性
工艺控制
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 电子元器件技术化解手机开发"瓶颈"
来源期刊 今日电子 学科
关键词
年,卷(期) 2005,(2) 所属期刊栏目 技术与市场
研究方向 页码范围 85-87
页数 3页 分类号
字数 4981字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-9606.2005.02.026
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
今日电子
月刊
1004-9606
11-3227/TM
大16开
北京海淀区中关村南大街乙12号天作国际中心1号楼A座1506-1508
82-518
1993
chi
出版文献量(篇)
4775
总下载数(次)
3
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