基于虚拟仪器技术的混合IC测试系统

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 虚拟仪器 混合IC测试系统 参数测试 工作电流 工作电压 载波抑制比 噪声系数
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 页码范围: 22
• 页数: 1页
• 分类号: TP216

摘要

混合集成电路性能参数测试系统主要为检测集成电路芯片是否符合出厂参数而设计。本测试系统可完成八种不同集成电路的多项性能参数测试，包括：工作电流、工作电压、载波抑制比、跨导、工作频率、噪声系数、传输系数、带宽、增益、隔离度等。同时还可对测试参数进行统计，分类及打印，并根据出厂参数对集成电路是否合格进行自动判别。