IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法

• 作者: 李康 王俊平 荆明娥 郝跃
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 参数成品率 映射距离 均匀设计 k近邻密度估计
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1259-1263
• 页数: 5页
• 分类号: TN43
• 字数: 2801字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.06.038

摘要

提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法--映射距离最小化算法.该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化,每次迭代模拟次数很少,优化过程明显加速.另外,给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法--k近邻密度估计,在有效时间内判断一个空间点集的均匀性.模拟结果表明,该算法对集成电路进行快速成品率优化设计及提高电路设计的稳定性具有较好的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	312	1866	17.0	25.0
2	李康	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	21	146	7.0	11.0
3	王俊平	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	31	284	10.0	16.0
4	荆明娥	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	10	44	4.0	6.0