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摘要:
利用统计分析手段,对高功率二极管激光器封装中各工艺环节引起器件失效的原因进行了分析和归类.根据几种失效模式的分析结果,焊接空隙、结短路、腔面退化是引起高功率DL失效的主要模式,针对高功率二极管激光器失效的主要模式,对焊料沉积夹具及焊接工艺参数进行了改进和优化,大大提高了封装工艺水平,使封装的器件成品率由原来的77%提高到了85%以上.
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Nd:YAG
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 高功率二极管激光器失效特性研究
来源期刊 强激光与粒子束 学科 工学
关键词 二极管激光器 失效 腔面退化 封装
年,卷(期) 2005,(z1) 所属期刊栏目 二极管激光及相关技术
研究方向 页码范围 97-100
页数 4页 分类号 TN248
字数 1255字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高松信 中国工程物理研究院应用电子学研究所 35 255 9.0 15.0
2 武德勇 中国工程物理研究院应用电子学研究所 42 361 12.0 17.0
3 吕文强 中国工程物理研究院应用电子学研究所 23 184 8.0 13.0
4 魏彬 中国工程物理研究院应用电子学研究所 11 124 6.0 11.0
5 邵冬竹 中国工程物理研究院应用电子学研究所 1 20 1.0 1.0
6 左蔚 中国工程物理研究院应用电子学研究所 1 20 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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参考文献  (2)
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研究主题发展历程
节点文献
二极管激光器
失效
腔面退化
封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
9833
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7
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61664
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