原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
边界扫描是数字电路常用的测试技术,基于IEEE1149.1标准的边界扫描技术对一款CMOS高频锁相环进行了可测性设计,该锁相环最高工作频率达GHz.详细讨论了最高输出频率、输出频率范围和锁定时间参数的测试方案,给出了详细的测试电路和测试方法.对应用该测试方案的锁相环电路增加测试电路前后的电路网表进行了Hspice仿真,仿真结果证明该方法能有效测量锁相环的参数,并且对原锁相环电路的功能影响很小.该测试方法可广泛用于高频锁相环的性能评测和生产测试.
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内容分析
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文献信息
篇名 高频锁相环的可测性设计
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 可测性设计 边界扫描 锁相环 高频
年,卷(期) 2005,(8) 所属期刊栏目 测试·封装·材料
研究方向 页码范围 118-120
页数 3页 分类号 TN911.8
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.08.046
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周红 中科院微电子研究所 2 5 2.0 2.0
2 陈晓东 中科院微电子研究所 3 12 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
可测性设计
边界扫描
锁相环
高频
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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