空间粒子辐射引起存储单元多位比特纠错方案

• 作者: 于伦正 赵建超
• 来源期刊: 微机发展
• 学科: 工学
• 关键词: 粒子辐射 汉明检/纠错 阵列移位寄存器组
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 计算机安全技术
• 页码范围: 154-156
• 页数: 3页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 3193字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2005.12.053

摘要

介绍了汉明码检/纠错的原理,并以IDT公司开发的具有检测两位错误和纠正一位错误的IDT49C465检/纠错电路单元为基础.针对主存储器某地址单元遭遇高能粒子轰击导致两位或多位比特出错的情况,提出了解决这类错误的一种方案.此方案通过利用阵列移位寄存器组对存储区数据进行转置来实现,并对此方案的数据可靠性做了概率分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵建超		1	2	1.0	1.0
2	于伦正		1	2	1.0	1.0