直接数字频率合成器频谱性能分析

• 作者: 刘志伟 刘惠敏
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 直接数字频率合成器 相位截尾噪声 正余弦函数映射功能
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 73-75
• 页数: 3页
• 分类号: TN74
• 字数: 2007字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2005.02.024

摘要

对直接数字频率合成器DDS(Direct Digital Frequency Synthesizer)的频谱性能进行了相关分析.在DDS频谱性能量化理论基础上,从相位噪声以及非线性余弦函数映射两个方面对DDS输出信号频谱纯度性能优化.对于硬件结构以及相关参数均确定的DDS而言,其频谱特性将随着频率调节字FFTW的变化而变化.研究结果表明,若字长M为32 bit,只需要计算出FFTW为 20, 21, ..., 231时所对应的信噪比SSNR值即可,取其中最小值来衡量DDS的频谱特性.基于上述量化方法,可以通过调节DDS系统中不同参数值或结构,计算它们对应的SSNR,从而得到最佳性能的设计方案.分别对相位截尾误差以及非理想SCMF产生的误差进行优化.为进一步提高DDS的频谱纯度,可以对非理想SCMF误差进行优化.通常SCMF由只读存储器查找表和插值算法组合而成.ROM表可以很容易取到相应角度对应的正余弦函数精确值,但是插值算法总会带来一定的运算误差.文中提出一种自动调节算法能够实现对非理想SCMF误差的优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘志伟	华中科技大学电子科学与技术系	14	85	6.0	8.0
2	刘惠敏	湖北黄冈职业技术学院计算机系	11	54	4.0	7.0