FPGA器件的竞争与冒险现象及消除方法

• 作者: 宣丽萍
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: FPGA 竞争冒险 毛刺 逻辑错误
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 数字/模拟电路
• 页码范围: 119-120
• 页数: 2页
• 分类号: TP211+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.10.048

摘要

现场可编程门阵列(FPGA)由于其内部构成,容易引起竞争冒险现象,从而使电路工作的稳定性大受影响,电路也容易产生误动作,以致产生意想不到的后果.本文详细介绍了冒险现象的产生,并结合实例介绍了消除竞争冒险现象的各种方法.这些方法主要通过改变设计,破坏毛刺产生的条件来减少毛刺的发生.他能够使FPGA设计中毛刺的出现几率减到最小,大大减少了逻辑错误,加强了电路工作的稳定性,有效地抑制了干扰,使设计也更加优化、合理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宣丽萍	黑龙江科技学院自动化系	35	127	6.0	9.0