基于CCD亚像元细分原理的点目标自动采样算法

• 作者: 李艳 柴饶军 纪大山 马彩文
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 亚像元 插值 自动采样
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 仿真方法与算法
• 页码范围: 111-114
• 页数: 4页
• 分类号: TN942.2
• 字数: 2580字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9348.2005.08.030

摘要

该文首先从短焦距镜头和给定CCD成像阵列的成像特性出发,分析了实现亚像元成像与定位的必要性.在对比提高像素分辨率和提高测量分辨率这两种亚像元动态成像技术之后,研究了如何在保持现有硬件系统不变的情况下,通过软件插值细分实现亚像元定位的方法.针对点目标图像可能存在的"方块效应"与"细节退化"现象,结合点目标灰度特性处理技术,改进并完善了邻域线性插值细分方法.从而,提出了该基于CCD亚像元细分原理的点目标自动采样算法.实验结果证明:该算法简单、可靠、稳定、快速,并具有一定适用性,为相关领域内的应用提供了宝贵的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马彩文	中国科学院西安光学精密机械研究所	92	1099	17.0	30.0
2	李艳	中国科学院西安光学精密机械研究所	73	935	16.0	28.0
3	柴饶军	中国科学院西安光学精密机械研究所	10	70	6.0	8.0
4	纪大山	中国科学院西安光学精密机械研究所	5	44	4.0	5.0