赝火花脉冲电子束传输中束斑分析

• 作者: 乐小云 刘志坚 文雄伟 江兴流
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 脉冲电子束 赝火花放电 束斑 自箍缩效应
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 流体、等离子体和放电
• 页码范围: 4229-4235
• 页数: 7页
• 分类号: O4
• 字数: 5958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.09.049

摘要

通过赝火花强流脉冲电子束对酸敏变色片和单晶硅的轰击试验,结合束流自箍缩效应进行理论计算,对赝火花脉冲电子束传输中束斑的变形进行了研究与分析. 结果表明椭圆形轰击束斑是由通过旁路电容的瞬态电流产生的方位角磁场所引起的,并且提出了解决束斑变形的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘志坚	北京航空航天大学理学院	9	45	4.0	6.0
2	江兴流	北京航空航天大学理学院	27	70	5.0	7.0
3	乐小云	北京航空航天大学理学院	16	39	3.0	5.0
4	文雄伟	清华大学机械学院	17	58	4.0	7.0