计及溅射损失的平行板静电场法离子引出和收集

• 作者: 应纯同 王德武 谢国锋
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 原子蒸气激光同位素分离 离子引出 溅射
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 核物理学
• 页码范围: 1543-1551
• 页数: 9页
• 分类号: O4
• 字数: 4430字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.015

摘要

采用粒子模拟-Monte Carlo碰撞(particle in cell-Monte Carlo collision)方法研究了原子蒸气激光同位素分离工程中一维平行板静电场法离子引出和收集过程,记录引出离子的能量分布和角度分布,计算离子在收集板上造成的溅射损失.模拟结果表明,增加引出电压可以缩短引出时问,降低碰撞损失,但是增加了溅射损失,使得收集率降低;增加电子温度可以缩短引出时间,提高收集率;增加初始等离子体密度将使引出时间增加,收集率降低;而目标同位素丰度较高的情况下,离子引出过程的碰撞损失率较低,收集率较高.提出了一种平行板静电场的改进方法,大大降低了溅射损失,提高了收集率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	应纯同	清华大学工程物理系	47	197	8.0	11.0
2	谢国锋	清华大学工程物理系	9	38	4.0	6.0
3	王德武	清华大学工程物理系	36	126	6.0	8.0