注意CPU超频引起的电子迁移（上）

• 作者: 濮元恺
• 来源期刊: 大众硬件
• 学科: 工学
• 关键词: CPU超频 电子迁移 使用寿命 制造工艺
• 年，卷（期）: dzyjc_2005,（11）
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TP306.3

摘要

此前一直有一种说法，超频引起的电子迁移会降低CPU的使用寿命，但很多人对其不甚理解。最近笔者也在关注这个问题，并参考了国内一些专业方面的资料，仔细研究后，学到了很多东西。有感而发，想借助这篇文章，上大家真正懂得电子迁移的概念以及在实际生产、应用中解决它的方法，同时了解先进的CPU制造工艺，更理性地认识超频及其影响。