微处理器系统功能测试

• 作者: 张峰 方葛丰 王家礼
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 微处理器系统 功能测试 故障覆盖率 结构故障模型
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 数字/模拟电路
• 页码范围: 108-110
• 页数: 3页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.10.044

摘要

针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法.详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成.该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分为固定0和固定1两种,开路故障分为开路为0、开路为1以及开路为Z三种.为了验证该方法的有效性,本文针对一块以MC6800为微处理器的电路板进行了测试程序开发.实验结果表明,故障覆盖率取得了满意的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王家礼	西安电子科技大学机电工程学院	65	586	14.0	20.0
2	张峰	西安电子科技大学机电工程学院	18	90	5.0	8.0
3	方葛丰		2	16	2.0	2.0