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GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究
GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究
作者:
万威
唐春艳
李方华
王玉梅
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
GaN
晶体缺陷
高分辨电子显微学
解卷处理
摘要:
借助高分辨电子显微像结合解卷处理的方法研究了GaN晶体中的堆垛层错.简要介绍了高分辨电子显微像的解卷处理原理,指出通过解卷处理可以把本来不直接反映待测晶体结构的高分辨电子显微像转换为直接反映晶体结构的图像.用高分辨电子显微像观察了GaN晶体中的堆垛层错,对高分辨电子显微像作了解卷处理.在解卷像上清晰可见缺陷核心的原子排列情况,据此确定了层错的类型.此外,还讨论了解卷处理在研究晶体缺陷中的效用.
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相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究
来源期刊
物理学报
学科
物理学
关键词
GaN
晶体缺陷
高分辨电子显微学
解卷处理
年,卷(期)
2005,(9)
所属期刊栏目
凝聚物质:结构、热学和力学性质
研究方向
页码范围
4273-4278
页数
6页
分类号
O4
字数
4719字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:1000-3290.2005.09.057
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李方华
中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室
31
48
4.0
5.0
2
万威
中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室
4
11
2.0
3.0
3
唐春艳
中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室
7
15
3.0
3.0
4
王玉梅
中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室
16
190
6.0
13.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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(0)
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2005(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
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引证文献(1)
二级引证文献(0)
2020(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
GaN
晶体缺陷
高分辨电子显微学
解卷处理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
主办单位:
中国物理学会
中国科学院物理研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-3290
CN:
11-1958/O4
开本:
大16开
出版地:
北京603信箱
邮发代号:
2-425
创刊时间:
1933
语种:
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
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