蚂蚁算法在时序电路测试生成中的应用研究

• 作者: 李智 莫玮 许川佩
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时序电路 测试生成 蚂蚁算法 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 187-190
• 页数: 4页
• 分类号: TN7
• 字数: 3271字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.02.019

摘要

数字集成电路的发展对测试提出了日益紧迫的要求,测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈问题.尤其时序电路的测试生成,理论上是个没有完全解决的问题.通过结合电路的结构信息,提出了基于蚂蚁算法的时序电路自动测试生成,该算法分初始化和故障检测两个阶段实现.实验结果表明,基于蚂蚁算法的测试生成能取得较好的故障覆盖率,并且测试生成所耗费的CPU时间非常短,说明这是个值得探索的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子工业学院电子工程系	124	676	13.0	19.0
3	李智	桂林电子工业学院电子工程系	123	891	16.0	23.0
4	莫玮	桂林电子工业学院电子工程系	40	255	9.0	14.0