电子设备中天线的电磁兼容问题分析

• 作者: 孟逢逢 朱武
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电磁干扰 电磁兼容 互耦效应 校正
• 年，卷（期）: 2005,（19）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 104-106
• 页数: 3页
• 分类号: TN820.1+7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.19.037

摘要

随着电子、电气设备或系统的广泛应用和现代电子设备的高密度组装,电磁干扰也越来越严重.为确保电子设备的正常工作,必须解决电子设备在电磁环境中的适应能力,因此电磁兼容性问题的研究非常重要.首先介绍了电磁兼容性原理;分析了电磁干扰的传播途径;重点讨论了电子设备中天线的互耦效应.天线的互耦效应直接影响到天线的性能和电参数的改变,由于阵列天线结构形式和电磁耦合作用的复杂性,互耦的分析通常需借助于电磁场数值算法.提出了一种利用等效网络来分析阵列互耦特性的方法,给出了N+1端口阵列互耦模型.最后从软件和硬件两个方面讨论了互耦影响的校正方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟逢逢		12	67	5.0	7.0
2	朱武		72	419	11.0	17.0