PLC双机热备系统设计及性能优化

• 作者: 杜繁荣 汪晋宽 赵强 顾德英
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: ControlLogix 可靠性 切换 扫描周期
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 工控机与先进控制部件
• 页码范围: 2439-2441
• 页数: 3页
• 分类号: TF3
• 字数: 1825字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.08.626

摘要

根据可靠性要求,过程控制系统中常采用冗余系统.在此以ControlLogix双机热备为例,阐明了系统工作过程,并针对热备器件介入后延长程序扫描周期,造成系统性能下降的问题,给出了程序优化方法.实践证明,该方法可有效减少程序扫描时间,提高系统整体性能.