基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现

• 作者: 李国
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 过采样 均值 ADC 分辨率
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 工程研究与设计技术
• 页码范围: 244-245,248
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+.2
• 字数: 2588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2005.z1.092

摘要

叙述了基于过采样技术使用软件方法提高ADC转换分辨率的基本原理及实现方法,给出了一个使用12位分辨率ADC转换芯片得到16位分辨率转换结果的实现示例,从而实现了利用较廉价的低档次芯片得到只有昂贵芯片才能得到的精度指标.当然采用过采样技术提高分辨率适用的场合是有限制的,使用过采样技术时还必须注意一些问题,文章对这些方面也进行了说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李国	中国民用航空学院计算机科学与技术学院	7	76	3.0	7.0