由 Mie 散射光强反演颗粒粒度分布的一种改进正则化法

• 作者: 李新衡 梁国标 王永全 王燕民
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 颗粒测量 Mie散射 激光粒度仪 反演算法
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 44-49
• 页数: 6页
• 分类号: TN247
• 字数: 3256字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.12.010

摘要

基于Mie散射的激光粒度仪广泛地应用在颗粒粒度测量中,其中由光强分布演算出粒度分布的计算方法一直是关注的热点.此反演问题属于第一类Fredholm算子方程,具有不适定性,难以得出准确的稳定解,需要用高效的数值算法.本文提出一种应用于该类仪器颗粒粒度分布反演问题的改进正则化法,采用广义交叉验证法(GCV)来选择正则参数,并引入松弛技术,将迭代值加工成一种松弛值以改善精度,得出了稳定的正则拟解(近似解).经标准颗粒的验证和计算机模拟证实,此算法是可行和有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李新衡	华南理工大学材料科学与工程学院	7	174	5.0	7.0
2	梁国标	华南理工大学材料科学与工程学院	2	85	2.0	2.0
3	王永全		1	15	1.0	1.0