基于遗传优化算法的二维漏磁缺陷重构

• 作者: 阙沛文 韩文花
• 来源期刊: 中国石油大学学报(自然科学版)
• 关键词: 逆问题 径向基函数 神经网络 遗传算法 漏磁检测
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 信息技术、管理工程与基础科学
• 页码范围: 138-141
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-5870.2006.01.031

摘要

信号逆问题,即从测量信号中恢复出缺陷轮廓及其参数,是漏磁无损评估中的一个重要课题.提出了一种基于遗传算法的逆算法,用于从漏磁信号中重构二维缺陷.在该算法中,径向基函数(RBF)神经网络用作前向模型,遗传算法用于求解逆问题中的优化问题,其优点是能够避免基于梯度下降法的迭代逆算法中可能遇到的局部最小问题,并能得到逆问题的全局最优解.实验结果验证了所提出的逆算法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩文花	上海交通大学自动检测研究所	9	55	4.0	7.0
2	阙沛文	上海交通大学自动检测研究所	109	1553	21.0	31.0