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摘要:
SEM和AFM技术是最常用的表面分析方法.本文介绍了SEM和AFM两种技术的原理,描述了这两种技术在样品形貌结构、成分分析和实验环境等方面的性能,比较了两种技术的特性和不足,充分利用两种技术的互补性,将两种技术结合使用,有助于更加深刻地认识样品的特性.
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文献信息
篇名 扫描电子显微镜与原子力显微镜技术之比较
来源期刊 中国体视学与图像分析 学科 医学
关键词 原子力显微镜 扫描电子显微镜 表面形貌 化学成分
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 53-58
页数 6页 分类号 TG115.21+5.3|R319
字数 4558字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-1482.2006.01.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林月娟 汕头大学中心实验室 8 154 4.0 8.0
2 沈忠英 汕头大学医学院 72 891 17.0 27.0
3 陈耀文 汕头大学中心实验室 85 660 10.0 23.0
4 沈智威 汕头大学中心实验室 42 326 9.0 17.0
5 张海丹 汕头大学中心实验室 8 155 4.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
原子力显微镜
扫描电子显微镜
表面形貌
化学成分
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国体视学与图像分析
季刊
1007-1482
11-3739/R
16开
北京清华大学工物系(刘卿楼)211室
1996
chi
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