天线互耦和激励对MIMO-OFDM系统抗干扰性能的影响

• 作者: 余琴 党群 吕善伟 赵福玲
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: +多输入多输出正交频分复用 耦合 激励 抗干扰
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN914
• 字数: 2174字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2006.01.003

摘要

在简介MIMO-OFDM系统基本原理的基础上,讨论天线单元的耦合和激励对MIMO-OFDM系统抗干扰性能的影响.采用MVDR波束形成算法,通过仿真例子可以看出,当天线单元实际存在互耦和激励误差时天线的抗干扰性能较理想情况会有所下降,表明要充分保持MIMO-OFDM的抗干扰性能需要考虑互耦效应和激励误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕善伟	北京航空航天大学电子信息工程学院	154	774	15.0	23.0
2	党群	北京航空航天大学电子信息工程学院	8	27	3.0	5.0
3	余琴	北京航空航天大学电子信息工程学院	2	1	1.0	1.0
4	赵福玲	北京航空航天大学电子信息工程学院	2	1	1.0	1.0